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Début des mesures AFM/MFM sur des échantilllons GO (Grain Oriented)
L'ESIEE Amiens et l'Université Picardie Jules Verne ont commencé à mesurer la topographie (AFM) et la structure magnétique (MFM) de deux échantillons : une disquette prise comme échantillon de référence et un échantillon GO SiFe fourni par SEPSA. C'est la première étape d'une analyse en deux temps. Les résultats seront comparés avec les mesures à effectuer sur le même échantillon après le traçage laser afin de mesurer son impact.
(a) Topographie de la disquette, (b) structure magnétique de la disquette, (c) Topographie de l'échantillon GO SiFe non-gravé de SEPSA, (d) structure magnétique de l'échantillon GO SiFe non-gravé de SEPSA.